新型Axio CSM 700真彩色共聚焦扫描显微镜主要用于材料科学的研究，品质检测和常规检查等，可对样品进行无接触分析、地形图测量，最高采集速度为170帧/秒。操作软件简单便捷，可进行粗糙度、厚度和颗粒度分析等。

产品应用：

1 粗糙度分析

对于材料表面的特性检测，Axio CSM 700 可为用户提供一个功能全面的非接触式光学三维表面形貌测量仪。高敏感度的光强探测功能，最优的共聚焦成像，测量结果精确。样品高度的连续测量和创新的软件计算系统保证在无震动的环境条件下获得最可靠的高度信息（测量范围可从2nm—毫米级）。

Axio CSM 700 显微镜可测量粗糙度并快速产生高度的轮廓图。基于高分辨率和彩色显微镜成像，用户可以决定测量哪个位置的高度以及获得什么样的高度轮廓图，这样试样表面被损坏的、没有代表性的区域可以被精确遮盖或用轮廓线代表。另外，3D粗糙度参数计算执行DIN EN ISO 4287标准，可进行表面的分析以获得3D特征，如润滑槽的体积。测量结果可同时显示曲线图和振幅密度能用不到1分钟的时间内就可完成二维或三维的粗糙度分析测量。

2 层厚测量
非接触式，速度快，可重复性
采用非接触式模式，Axio CSM 700可迅速测量出透明层厚度。通过测量出的数值，可以得出关于涂层表面光洁度和其它变量的信息。

次表面界面和细节
对于多层系统和半透明材料，Axio CSM 700,可以获得表面下层的组织结构，如不同质性、孔洞、夹杂和界面。当知道中间的反射系数后，就可测得层厚和光路长度。

3 薄层分析
在显微技术领域，50 nm到5 µm范围的层厚正逐渐变得越来越重要（像半导体转换电路和薄膜传感器）。材料和基底的多样性要求表面分析和显微元素分析具有高灵活度。使用Axio CSM 700，可迅速获得显微结构成份的轮廓和层厚、轮廓的高度、结构宽度。这些操作都可直接进行，并且对样品没有破坏性，不需对样品制样，效率高。

4 高分子材料和玻璃质量分析
不仅在质量控制方面Axio CSM 700具有优势，在高分子和玻璃行业，Axio CSM 700也同样具有优势。共聚焦方法可完美的用于对光学部件和透明部件的3D形貌分析。
使用Axio CSM 700.，在生产过程中，可进行三维的、无损的检测，以实现对质量的控制。对于透镜的几何特征，如半径，通过软件可自动测量。可进行体积和面积的计算和对比。
在不同的位置和方向，可进行二维的粗糙度分析。在模塑的聚氨酯泡沫部件的生产中，如鱼缸的过滤器、麦克风套或计算机鼠标垫，可对其气孔大小的分布进行测量，以对模塑完的聚氨酯泡沫部件进行质量控制。实际上，泡沫部件会有一些典型的缺陷，这是由于对模塑温度的控制不足或原材料的化学成分方面的原因造成的，从而导致表面质地的厚度和气泡的不同。使用Axio CSM 700，可对泡沫表面进行三维形貌分析，如表面粗糙度的测量、气泡的体积、接缝和染色，从而提高产品质量，减少不合格产品的数量。