- 产品描述
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- 商品名称: 紫外系统
- 商品编号: 1183807347101421568
专用配套软件为该系统应用而开发的专用配套软件功能强大,界面友好,集成了单色仪、滤光片轮、锁相放大器、复合光源室和复合
专用配套软件
为该系统应用而开发的专用配套软件功能强大,界面友好,集成了单色仪、滤光片轮、锁相放大器、复合光源室和复合探测器室的自动控制转换、设定和工作状况显示,探测器定位,测试程序编辑,自动测试,数据计算,图表自动生成,数据备份和打印输出等功能,实现了系统应用的全自动化。
系统应用扩展
1. 目前系统的光源光谱范围是200-2500nm,可以测量紫敏硅、硅、光电倍增管、锗、铟镓砷等探测器。如将光源换成硅碳棒等红外光源,光栅换成红外光栅,则系统可对红外探测器PbS,InSb,MCT等进行测量。
2. 如已知某光源的光谱曲线,可以通过互换光源的方法,对未知的光源进行发射光谱的测量。
3. 可以通过在系统光路中加入样品的办法,来测量薄膜、液体、气体、固体的反射、透射、吸收等指标。
系统主要技术指标:
复合光源光谱范围:
200-2500nm
其中:200-350nm (使用30W氘灯)
350-2500nm (使用75W溴钨灯)波长准确度:
0.2nm
波长重复性:
0.1nm
单色仪倒线色散:
2.7nm/mm(1200l/mm光栅)
电流不稳定度:
氘灯稳流电源<0.05%
钨灯稳流电源<0.02%
系统重复误差:
<5%
系统测量误差:
<5%
狭缝尺寸:
宽度:10μm-3mm连续可调
高度:14mm
等辐照度平行光斑尺寸:
(可测量最大光敏面积)6mm宽×12mm高
产品型号
适用波长
〔nm〕
外径 φD
〔mm〕
厚度 t
〔mm〕
反射率
〔%〕
损失
〔ppm〕
3D图纸
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