产品管理
  • 全部
  • 产品管理

几种常用的平面度测量方法及缺陷

发布时间:2015-10-22

  面度(flatness;planeness),是属于形位公差中的一种,指物体表面具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。在传统的检测方法中,平面度的测量通常有:塞规/塞尺测量法、液平面法、激光平面干涉仪测量法(平晶干涉法)、水平仪/数字水平仪测量法、以及打表测量法。

  塞尺测量法,只需一套可随身携带的塞尺就可随时随地进行平面度的粗测。目前很多工厂仍使用该方法进行检测。由于其精度不高,常规最薄塞尺为10um,检测效率较低,结果不够全面,只能检测零件边缘。

  液平面法,基于连通器工作原理,适合测量连续或不连续的大平面的平面度,但测量时间长,且对温度敏感,仅适用于测量精度较低的平面。

  激光平面干涉仪测量法,最典型的用法是平晶干涉法。但主要于测量光洁的小平面的测量,如千分头测量面,量规的工作面,光学透镜。

  水平仪测量法,广泛用于工件表面的直线度和平面度测量。测量精度高、稳定性好、体积小、携带方便。但是用该方法测量时需要反复挪动仪器位置,记录各测点的数据,费时、费力,调整时间长,数据处理程序繁琐。

  打表测量法,典型应用为平板测微仪及三坐标仪,其中优以三坐标仪为应用最广泛。测量时指示器在待测样品上移动,按选定的布点测取各测量点相对于测量基准的数据,再经过数据处理评定出平面度误差。但其效率较低,通常一个样品需要几分钟,离15ppm的期望相差甚远。

关键词: 几种常用的平面度测量方法及缺陷

相关新闻

迈微信光电参加第五届光子学与光学工程国际会议(icPOE)

2023年6月10日至11日,由陕西省光学学会、中国光学学会高速摄影和光子学专业委员会主办的第五届光子学与光学工程国际会议在西安举行,成都迈微信光电仪器有限公司应邀成为本次会议的赞助商。

西格玛光机株式会社飞田先生来访,与公司领导深度交流

日本光电技术行业知名企业西格玛光机的亚太地区销售负责人飞田先生到访我公司进行友好访问

迈微信光电参加第十六届中国核靶技术学术交流会

近日,迈微信光电受邀参加在贵阳市举办的第十六届中国核靶技术学术交流会。本次会议聚集了来自全国各地的专家学者、科研人员和行业精英,共同探讨核靶技术领域的最新研究成果和发展趋势。

我公司赞助中科院光电所羽毛球赛取得圆满成功

生命不休,运动不止!我公司赞助中科院光电所羽毛球赛取得了圆满成功。

参加中国微米纳米技术学会 第十六届学术年会暨第五届国际会议

成都迈微信科技有限公司参加了一年一度中国微米纳米技术学会第十六届学术年会暨第五届国际会议。

Lumio推出最新光学触控技术Crystal Touch专利

中国触摸屏网讯,Lumio为一家注册于美国加州Menlo Park的专业光学触控技术开发公司,其最新发表自有专利Crystal Touch技术,可于触控萤幕全区域达到完美的3点触控,包含一般光学触控技术最容易发生萤幕上方触控区域失效问题,也能够藉由Crystal Touch技术得到更完美的解决方案。