采用了特殊结构的半透镜，能高效地收集被测试样的反射光，并高效地导入分光光度计，可快速地完成低反射率样品的测量。
采用了特殊的光学结构，有效地避免了底面反射的影响，可直接测量未经处理的透明薄板的反射率。
(使用20倍物镜时，可测最小透明薄板厚度可达0.3mm）
采用了特殊卤素灯和独创的光学设计，其有效光量大，获取数据快，重复精度高。
测量点小(典型值为φ50μm)，可直接测曲面，以及膜层的分布特性。
结构紧凑，体积小，不占空间。
可用Microsoft Excel®文件格式保存测量数据。
可在同一窗口内，同时显示多个样品的测量结果(曲线)，
方便数据的对比分析。
技术指标
Location: 中国